SISTEM PAKAR MENDETEKSI KERUSAKAN HARDWARE PADA SMARTPHONE MENGGUNAKAN METODE NAÏVE BAYES (STUDI KASUS : DINI CELL)

Alim, Moris Nofernanda (2023) SISTEM PAKAR MENDETEKSI KERUSAKAN HARDWARE PADA SMARTPHONE MENGGUNAKAN METODE NAÏVE BAYES (STUDI KASUS : DINI CELL). Sarjana thesis, Universitas Putra Indonesia YPTK Padang.

	Text Skripsi_19101152610163_MORIS NOFERNANDA ALIM_Abtsrak.pdf Download (11kB)
	Text Skripsi_19101152610163_MORIS NOFERNANDA ALIM_BAB I.pdf Download (91kB)
	Text Skripsi_19101152610163_MORIS NOFERNANDA ALIM_DAftar Pustaka.pdf Download (9kB)
	Text Skripsi_19101152610163_MORIS NOFERNANDA ALIM_Full Text.pdf Restricted to Repository staff only Download (3MB)

Abstract

Perkembangan teknologi pada saat ini sangat cepat dan pesat, diantara adalah smartphone android, banyaknya jenis smartphone dikeluarkan akan menimbulkan berbagai masalah berupa kerusakan pada smartphone android. Kerusakan bisa disebabkan oleh kesalahan pabrik atau kesalahan dari pengguna itu sendiri. Pada penelitian ini akan membantu teknisi pada dini cell supaya dapat melakukan deteksi kerusakan dengan cepat dan akurat, untuk itu dirancang sebuah sistem pakar untuk mendeteksi kerusakan pada smartphone berbasis website dengan menerapkan metode naïve bayes. Sistem pakar merupakan program komputerisasi laporan yang mencoba meniru proses pemikiran dan pengetahuan ahli dalam memecahkan masalah. Metode naive bayes merupakan algoritma yang memanfaatkan teori probabilitas, yang memprediksi probabilitas di masa depan berdasarkan pengalaman di masa sebelumnya dengan memanfaatkan pengetahuan pakar. Untuk itu diperlukannya suatu sistem yang dapat mempemudah teknisi yang ada pada dini cell melakukan deteksi kerusakan smartphone dengan cepat dan menyimpan semua hasil deteksi tersebut berupa data Kata Kunci : Sistem, Pakar, Kerusakan, Smartphone, Naïve Bayes

Actions (login required)

View Item